교육 기기

투과전자현미경(TEM) / 이온빔주사전자현미경(FIB)

교육일정

1월 17일 (화)

13:30~17:00

교육담당

이유진

연구원

교육개요

TEM과 FIB의 원리 및 기초 기기운용

준비물

비고

1. 실습은 당일 신청자에 한하여 진행합니다.

2. 강의실 사정으로 인하여 분반 및 수강인원이 제한될 수 있습니다.

일정

교육내용

장소

1월 17일 (화)

13:30~17:00

1. 투과전자현미경(TEM)의 기초 이론 및 특성

2. 이온빔주사전자현미경(FIB)의 기초 이론 및 특성

3. TEM과 FIB 응용

4. 다양한 분석기법 소개

505호

세미나실

1. 시료 전처리 및 시료 조건 소개

2. TEM, FIB 장비 설명

3. TEM, FIB 분석기기 시연

B06호

투과전자현미경실

106호

SEM2실

교육 문의

이유진 연구원, lyj88@cnu.ac.kr

※ 본 교육은 TEM, FIB 기초 입문자를 대상으로 진행합니다.

※ 기기 시연 시 참가자 시료로 분석 원하시면 개인적으로 연락 바랍니다.