교육 기기

주사전자현미경

Field Emission

Scanning Electron

Microscope

교육일정

7월 21일 (금)

13:30~17:00

교육담당

이이슬

연구원

교육개요

주사전자현미경의 원리 및 기초 기기운용

준비물

비고

1. 실습은 당일 원하는 분에 한하여 진행함

2. 수강 인원이 많을 경우, 분석기기 시연으로 변경 될 수 있음

일정

교육내용

장소

7월 21일 (금)

13:30~17:00

1. 전자현미경의 기초 이론

2. 전자현미경의 기기구성 및 특성

3. 전자현미경을 이용한 분석 기법 소개

505호

세미나실

1. 시료 전처리 순서 및 시료 조건 소개

2. 전자현미경 작동 순서 소개

3. SEM, EDS 분석기기 시연

※ 당일 수강인원 및 시간에 따라 변경 될 수 있습니다.

110호

주사현미경실

(SEM Lab.)

교육 문의

이이슬 연구원, leeyiseul@cnu.ac.kr

※ 본 교육은 SEM의 기초적인 내용으로 진행합니다.

※ 기기 시연 시 참가자 시료로 분석 원하시면 개인적으로 연락 바랍니다.