교육 기기

주사전자현미경

Scanning Electron Microscope

교육담당

백지영 연구원

교육개요

주사전자현미경의 원리 및 기기 운용법 소개

비고

이론교육 후 기기 시연으로 진행합니다. (교육 인원 : 선착순 20명)

일정

교육내용

장소

1월 17일 (수)

14:00~16:00

1. 주사전자현미경의 기초 이론

2. 주사전자현미경의 기기 구성 및 특성

3. 주사전자현미경을 이용한 분석 기법 소개

505호

세미나실

1. 실험실 및 SEM 장비 소개

- 주사전자현미경 구조 및 특성 설명

2. 샘플 전처리 및 기기 시연

- SEM분석을 위한 샘플 조건 및 전처리 과정 설명

- 시료 로딩 및 분석 절차 안내

- 분석 방법 및 결과 확인

110호

교육 문의

백지영 연구원, baekji511@cnu.ac.kr 042-821-7384

※ 본 교육은 기초 입문자를 대상으로 진행합니다.