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수시교육
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교육기기 : 투과전자현미경(TEM) / 이온빔주사전자현미경(FIB)
교육일정 : 1월 30일(금) 13:30~17:00
수강 신청 및 납부 : 2015년 1월 7일(수) 09:00 ~ 1월 9일(금) 17:00 까지
교육담당 : 이유진 연구원
교육개요 : TEM과 FIB의 원리 및 기초 기기운용
* 실습은 당일 신청자에 한하여 진행
수강 인원이 많을 경우, 분석기기 시연으로 변경 될 수 있음
이론교육 (107호 시청각실)
1. 투과전자현미경(TEM)의 기초 이론 및 특성
2. 이온빔주사전자현미경(FIB)의 기초 이론 및 특성
3. TEM과 FIB 응용
4. 다양한 분석기법 소개
실습교육 (B06호 투과전자현미경실 106호SEM2실)
1. 시료 전처리 및 시료 조건 소개
2. TEM, FIB 장비 조작 설명
3. TEM, FIB 분석기기 시연
교육 문의 : 이유진 연구원, lyj88@cnu.ac.kr 042-821-7942
※ 본 교육은 TEM, FIB 기초 입문자를 대상으로 진행합니다.
※ 기기 시연 시 참가자 시료로 분석 원하시면 개인적으로 연락 바랍니다.
이유진
