| 제목 | 신규 도입 장비 안내 (타원편광분석기, Spectroscopic Ellipsometer) | ||||||||||||||||||||
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| 작성자 | 최선영 | 등록일 | 2023.05.04 | 조회수 | 540 | ||||||||||||||||
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우리 공동실험실습관에 신규 도입된 분석 장비를 소개합니다.
▣ 장비명 : 타원편광분석기, Spectroscopic Ellipsometer
▣ 장비 사양
- 모델 : M-2000D
- 제작사 : J.A.Woollam
- 제조국 : 미국
- 사양 :
1. Light Source : QTH(Quartz-Tungsten-Halogen)/ Deuterium
2. Detector : CCD array (UV/VIS)
3. Angle Range : 45°~90°
4. Spectral Range : 193 ~ 1000nm (~500 Wavelengths)
5. Spectral Resolution : 1.6nm pixel resolution (UV/VIS)
6. 300um beam focusing
7. Automated Sample Translator(200mm*200mm)
▣ 분석 응용
- 광학 코팅, 반도체, FPD, LED, Solar Cell 등의 부품소재에 사용되는 얇은 박막(film)의 두께(d) 및 광학상수(굴절률 n, 흡수계수 k)를 측정
- Å ~ 수 ㎛ 단층 및 다층 박막의 두께 계측 및 박막 표면 2D 매핑
▣ 장비 세부 설명 및 자료 : 기기안내 바로가기[클릭], 하단 장비 카탈로그 참고해주세요.
▣ 분석료 :
* n, k, Thickness의 경우 1 point 기준 * 2D-Mapping의 경우 13 points 기준
- Focusing Light Beam(300㎛) 사용 시 : 분석료 + 10,000원
* Modelling 프로그램 : CompleteEASE 6.0 * Modelling 의뢰자 직접의 경우 실험실에 방문하셔서 분석용 Computer에서 직접하시면 됩니다. (사용 가능한 자만) * Modelling 담당자의 경우 샘플에 따라 결과를 받으시는 기간이 최대 2주 이상 소요 될 수 있음을 미리 안내드립니다.
감사합니다. |
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